Measurement of high-quality diffraction data with a Nonius KappaCCD diffractometer: finding the optimal experimental parameters
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt
| Originalsprog | Engelsk |
|---|---|
| Tidsskrift | Journal of Applied Crystallography |
| Udgave nummer | 36 |
| Sider (fra-til) | 931-939 |
| ISSN | 0021-8898 |
| Status | Udgivet - 2003 |
ID: 124819