Micro-Raman spectroscopy for the detection of stacking fault density in InAs and GaAs nanowires
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt
Originalsprog | Engelsk |
---|---|
Artikelnummer | 165433 |
Tidsskrift | Physical Review B |
Vol/bind | 96 |
Udgave nummer | 16 |
Antal sider | 7 |
ISSN | 2469-9950 |
DOI | |
Status | Udgivet - 19 okt. 2017 |
ID: 185228649